國產(chǎn)顯微鏡通常會(huì )有哪些觀(guān)察方法呢

更新時(shí)間：2019-02-26

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　　使用國產(chǎn)顯微鏡可以直接觀(guān)測到顆粒的形狀和大小，可以直接用觀(guān)察到的幾何圖像確定顆粒的尺寸，所以國產(chǎn)顯微鏡法往往作為其它間接測定方法的基準。這種方法所需的試樣分量不多，靈敏度較高；不僅可以直接觀(guān)察，而且還可以通過(guò)拍攝將結果記錄下來(lái)。這些都是其它方法比不上的優(yōu)點(diǎn)。另一方面，由于所取的試樣分量很少，所以這種方法對試樣有無(wú)代表性的要求甚嚴。同時(shí)對試樣的制備技術(shù)要求也比較嚴格。用國產(chǎn)顯微鏡觀(guān)測顆粒的尺寸時(shí)，有著(zhù)許多*的表示方法。因此，充分了解各種顆粒直徑的意義便顯得格外重要。使用顯微鏡測量顆粒直徑時(shí)，通常都是測量顆粒投影像的尺寸。除了必須測量厚度的特殊情況之外，一般只限于測定顆粒的平面像。

　　1、明視野法

　　觀(guān)察試樣直接反射光的方法。照明燈的光通過(guò)物鏡垂直導向而入射于試樣，來(lái)自試樣的直接反射光通過(guò)物鏡即被觀(guān)察到。

　　2、暗視野法

　　觀(guān)察試樣干涉及衍射光的方法。照明光線(xiàn)通過(guò)物鏡外圍斜射于試樣，來(lái)自試樣的干涉及衍射光即被觀(guān)察到。

　　★適用國產(chǎn)顯微鏡檢測試樣上微細的擦痕或裂痕、檢測晶片等試樣鏡狀表面。

　　3、微分干涉對比法

　　這是將用明視野法可能觀(guān)察不到的試樣高度微小差異通過(guò)改善對比法變?yōu)榱Ⅲw或三維圖像的顯微觀(guān)察技術(shù)。照明光由微分干涉對比棱鏡變?yōu)閮墒苌涔?。這兩束衍射光使試樣高度差異造成在光路上的微小差異，而光路差異變?yōu)槔梦⒎指缮鎸Ρ壤忡R和檢偏振器的明暗對比。

　　再利用敏感色板，加強了高度差異的顏色變化。

　　★適合檢測包括金相結構、礦物、磁頭、硬磁盤(pán)表面和晶片精制表面等有極其微細高度差異的試樣。

　　4、偏振光法

　　這是使用由兩個(gè)一組的濾色鏡(檢偏振器和起偏振器)形成偏光的顯微觀(guān)察技術(shù)。這些偏光軸始終保持相互垂直。一些試樣在兩個(gè)濾色鏡之間呈鮮明的對比?；蚋鶕p折射性能和定向（即、鋅結構的拋光試樣）呈現顏色。在檢偏振器插在目鏡前的觀(guān)察光路時(shí)，起偏振器位于垂直照明前面的光路。

　　★適合觀(guān)察金相結構(即、球墨鑄鐵的石墨增長(cháng)形態(tài))，礦物和液晶(LCD)以及半導體材料。

　　5、熒光法

　　本技術(shù)用于發(fā)出熒光的試樣。

　　★適合利用熒光法檢測晶片的污染，感光性樹(shù)脂的殘留物，以及檢測裂縫。